高溫試驗(yàn)?zāi)康?/span>

高溫試驗(yàn)箱恒溫實(shí)驗(yàn)箱的目的是確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。高溫試驗(yàn)?zāi)芤l(fā)產(chǎn)品哪些故障。

功能失效：系統(tǒng)宕機(jī)、重啟、信號(hào)錯(cuò)誤。

性能降級(jí)：運(yùn)行速度變慢、輸出功率下降、信號(hào)失真。

物理?yè)p壞：

塑料外殼軟化、變形、熔化；

液晶顯示屏變黑、出現(xiàn)殘影；

電池鼓包、漏液，甚至有起火風(fēng)險(xiǎn)；

 焊點(diǎn)融化或開(kāi)裂；

元器件脫焊、損壞。

高溫試驗(yàn)箱測(cè)試參數(shù)

高溫試驗(yàn)應(yīng)規(guī)定相應(yīng)的試驗(yàn)溫度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間，試驗(yàn)溫度和試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從下列數(shù)值中選取：

（1）試驗(yàn)溫度：+30 ℃、+35 ℃、+40 ℃、+50 ℃、+55 ℃、+60 ℃、+65 ℃、+70 ℃、+85 ℃、+100 ℃、+125 ℃、+155 ℃、+175 ℃、+200 ℃、+250 ℃、+315 ℃、+400 ℃、+500 ℃、630 ℃、+800 ℃、+1000 ℃。

（2）持續(xù)時(shí)間：2 h、16 h、72 h、96 h、168 h、240 h、336 h、1000 h。

4、高溫恒溫試驗(yàn)房項(xiàng)目

(高溫啟動(dòng)試驗(yàn)

受試產(chǎn)品在溫度開(kāi)始穩(wěn)定后對(duì)受試產(chǎn)品進(jìn)行通電工作并運(yùn)行正常。

示例：受試產(chǎn)品在+50℃條件下穩(wěn)定2小時(shí)后，上電工作2小時(shí)，試驗(yàn)箱恢復(fù)至常溫+25℃保持1小時(shí)，試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。

高溫工作試驗(yàn)

受試產(chǎn)品在整個(gè)低溫試驗(yàn)期間連續(xù)通電工作并運(yùn)行正常。

示例：受試產(chǎn)品在+50℃條件下，連續(xù)通電工作運(yùn)行4小時(shí),試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。

高溫貯存試驗(yàn)

受試產(chǎn)品在試驗(yàn)期間不通電，試驗(yàn)結(jié)束后通電測(cè)試功能。

示例：受試產(chǎn)品在+50℃條件下，斷電貯存24小時(shí)，試驗(yàn)期間的溫度變化速率為1℃/min。

高溫試驗(yàn)檢測(cè)結(jié)果判定

試驗(yàn)期間或試驗(yàn)后，受試產(chǎn)品功能性能是否發(fā)生改變，受試產(chǎn)品外觀是否發(fā)生異常。

高溫試驗(yàn)基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.2《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫》。

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